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電子分析天平外校與內校操作比較

發表時間:2022-07-06      點擊次數:9787

電子分析天平是精度為(wei) 0.1mg的高精度電子天平,是實驗室通用儀(yi) 器。正規電子分析天平一般采用電磁力傳(chuan) 感器,因存放時間較長、位置移動、磁場變化、環境溫度變化等因素,為(wei) 獲得精確測量,分析天平再次使用前一般都應進行校準操作。
一、下麵我們(men) 以FA2004B電子天平為(wei) 例,詳細講解一下用砝碼進行外部校準的操作:
1.校準天平前期準備:
將天平放置水平的台麵上,並保證無風,附近沒有帶磁性的東(dong) 西,調整天平的水平儀(yi) ,取下秤盤上所有被測物,天平設置為(wei) 開機的默認值。輕按'去皮'鍵,天平清零後顯示為(wei) 0.0000g。
2.校準:
輕按'校準'鍵(有些天平是CAL鍵),當屏幕顯示“CAL-200”閃爍碼時,即鬆手,表示需要用200g的標準砝碼校準。此時用鑷子或者幹淨的紙片輕拿200g標準砝碼放上,顯示屏即出現等待狀態“Pleasewait”,CAL-200”停止閃爍,經數秒鍾後,顯示屏出現“200.0000g”,同時“Pleasewait”熄滅。然後拿去校準砝碼,顯示器應出現0.0000g,完成了一次校準。如若顯示不為(wei) 零,則再清零,再重複以上校準操作(為(wei) 了得到準確的校準結果,最好多次重複以上校準操作)。
二、內(nei) 部校準與(yu) 外部校準的區別及優(you) 勢:
外部校準工作進行在天平工作之前,能保證電子天平稱量前的準確性。如若在稱量過程中環境發生變化,此時電子天平並不能及時反饋給操作人員,進而可能導致稱量的不準確性。
內(nei) 部校準技術可以有效避免此等不穩定因素所造成的誤差。
內(nei) 校電子天平校準時比較便捷。一般有一個(ge) 內(nei) 校按鍵,按下這個(ge) 按鍵,電子天平就可以自動校準了。使用內(nei) 校天平在稱量過程中,天平自身可以自動檢測到不穩定的環境因素變化,並隨時自動校準,進而達到持續校準、持續穩定的工作狀態,從(cong) 而使測量結果更加準確。  

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